什么是FCT測(cè)試？

FCT是英文functional circuit test的簡(jiǎn)稱，中文意思即為功能測(cè)試。FCT是指對(duì)待測(cè)目標(biāo)板（實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下測(cè)試也可以認(rèn)為是PCB測(cè)試板）進(jìn)行模擬運(yùn)行環(huán)境的測(cè)試，包括激勵(lì)和負(fù)載，以檢測(cè)待測(cè)板的各種功能狀態(tài)，達(dá)到驗(yàn)證目標(biāo)板功能是否合理滿足需求的一種測(cè)試方法。在實(shí)際應(yīng)用過程中，F(xiàn)CT設(shè)備也可以和ICT設(shè)備一樣，用于PCBA板生產(chǎn)線上的檢測(cè)測(cè)試。

FCT測(cè)試模式有哪些？

功能測(cè)試的模式通常有手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)三種測(cè)試方法，隨著各類技術(shù)裝備的發(fā)展，目前全自動(dòng)測(cè)試方式是主流。我們也可以按照MCU、嵌入式CPU、PC、PLC控制方式的不同，來對(duì)其功能測(cè)試進(jìn)行分類。

FCT測(cè)試儀

FCT功能測(cè)試系統(tǒng)由哪些部分構(gòu)成？

通常由系統(tǒng)控制中心（控制測(cè)試全局、對(duì)測(cè)試內(nèi)容進(jìn)行判斷、輸出結(jié)果）；控制執(zhí)行部分（由I/O部件組成，部署測(cè)試環(huán)境實(shí)現(xiàn)測(cè)試功能）；參數(shù)測(cè)量部分（模擬、采集狀態(tài)）；數(shù)據(jù)處理和輸出部分（PCBA品質(zhì)測(cè)試核心）。

FCT與首件檢測(cè)有什么不同？

⑴、測(cè)試順序不同。通常來說FCT測(cè)試，應(yīng)早于首件檢測(cè)。

⑵、測(cè)試目的不同。FCT可以測(cè)試驗(yàn)證PCBA板的設(shè)計(jì)功能是否符合需求，測(cè)試其與待測(cè)環(huán)境功能實(shí)現(xiàn)問，也可以用于產(chǎn)線檢查各元器件及線路性能；而首件檢測(cè)是在PCB板的設(shè)計(jì)基本定型，開始批量生產(chǎn)后為了檢測(cè)第一塊首件板本身的性能，需要對(duì)首件進(jìn)行檢測(cè)（也可以是換班等進(jìn)行首件檢測(cè)）。

⑶、測(cè)試方式不同。FCT測(cè)試可以進(jìn)行模擬環(huán)境測(cè)試，也可以上線檢測(cè)，而首件檢測(cè)是在SMT生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)體測(cè)試，測(cè)試完成即可進(jìn)行批量生產(chǎn)。

⑷、測(cè)試范圍不同。一般來說首件檢測(cè)的檢測(cè)范圍一般要小與FCT，F(xiàn)CT測(cè)試更全面。

FCT和首件檢測(cè)儀是兩種不同的設(shè)備，F(xiàn)CT測(cè)試一般是較為復(fù)雜的PCBA板剛需，可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)用，也可以在產(chǎn)線上檢測(cè)用。在PCBA生產(chǎn)工藝流程中，ICT和FCT的設(shè)備擺放位置可以放在一處。